五點(diǎn)試塊(五點(diǎn)試片)
簡(jiǎn)要描述:sherwin五點(diǎn)試片,用來(lái)檢驗(yàn)滲透劑的靈敏度和操作工藝準(zhǔn)確性驗(yàn)證的手段,同時(shí),該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面,用來(lái)檢驗(yàn)滲透劑的清洗性能和清洗方法的準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證。它的靈敏度以顯示缺陷的點(diǎn)數(shù)和每一個(gè)點(diǎn)和每一個(gè)點(diǎn)的徑域直徑大小判斷。
- 產(chǎn)品型號(hào):美國(guó)磁通TAM
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-04-15
- 訪 問(wèn) 量:4335
美國(guó)磁通TAM五點(diǎn)試片是滲透檢測(cè)試塊,為4英寸X6英寸的不銹鋼試片。
sherwin五點(diǎn)試片,用來(lái)檢驗(yàn)滲透劑的靈敏度和操作工藝準(zhǔn)確性驗(yàn)證的手段,同時(shí),該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面,用來(lái)檢驗(yàn)滲透劑的清洗性能和清洗方法的準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證。它的靈敏度以顯示缺陷的點(diǎn)數(shù)和每一個(gè)點(diǎn)和每一個(gè)點(diǎn)的徑域直徑大小判斷。
關(guān)鍵詞:五點(diǎn)試片,五點(diǎn)試塊,不銹鋼試片
TAM試片
4英寸×6英寸的不銹鋼試片,可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。
該試片一面為粗糙面,用于檢測(cè)水洗性,另一面為5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)。星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列,用于檢測(cè)靈敏度。
Pratt和Whitney TAM
件號(hào):198055
配件號(hào):146040
美國(guó)磁通TAM試片
美國(guó)磁通TAM試片是滲透檢測(cè)試塊,為4英寸X6英寸的不銹鋼試片,可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。
美國(guó)磁通TAM試片一邊為粗糙表面用于檢測(cè)水洗性,另一邊為含有5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū),星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列,用于檢測(cè)靈敏度。
美國(guó)磁通TAM試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國(guó)外主要工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。