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試片（五點(diǎn)試片）
簡(jiǎn)要描述：TAM試片試片是滲透檢測(cè)試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片，可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。試片一邊為粗糙表面用于檢測(cè)水洗性，另一邊為含有5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)，星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列，用于檢測(cè)靈敏度。試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。
產(chǎn)品型號(hào)：美國磁通TAM- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-04-15
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詳情介紹
TAM試片（美國磁通五點(diǎn)試片）
TAM試片是滲透檢測(cè)試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片，可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。試片一邊為粗糙表面用于檢測(cè)水洗性，另一邊為含有5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)，星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列，用于檢測(cè)靈敏度。
試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。
產(chǎn)品關(guān)鍵字：TAM試片，美國磁通五點(diǎn)試片
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