磁粉探傷試片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型試片 ,D型試片,C型試片

簡(jiǎn)要描述：磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

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更新時(shí)間：2024-04-15
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磁粉探傷用試片使用說(shuō)明

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：

名稱(chēng)		A型試片		D型	C型	M1
試片厚度微米		100±10	50±5	50±5	50±5	50±5
試片長(zhǎng)度毫米		20±1	20±1	10±0.5	10±0.5	20±1
試片寬度毫米		20±1	20±1	10±0.5	50±0.5	20±1
分割線間隔毫米					5±0.5
圓形人工槽直徑毫米	高靈敏度	10±0.5	10±0.5	5±0.3		12
	中靈敏度					9
	低靈敏度					6
十字人工槽長(zhǎng)度毫米	高靈敏度	6±0.3	6±0.3	3±0.2
	中靈敏度
	低靈敏度
人工槽深度微米	高靈敏度	15±2.0	7±1.0	7±1.0	8±1.0	7
	中靈敏度	30±4.0	15±2.0	15±2.0	15±2.0	15
	低靈敏度	60±8.0	30±4.0	30±4.0	30±4.0	30
人工槽寬度微米		60—180

標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：

標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無(wú)人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。

標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過(guò)退火處理；A2試片未經(jīng)過(guò)退火處理。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。