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磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。
M1型磁粉檢測試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時,驗證工件表面磁場強度的大小與方向,驗證磁粉探傷的綜合性能。
A型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。
D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作 D型磁粉靈敏度試片用于連續(xù)法磁粉探傷時,驗證工作表面磁場強度的方向與大小,驗證磁粉探傷的綜合性能。
N1型提升力試塊 規(guī)格為:45牛頓,約5Kg N2型提升力試塊 規(guī)格為:118牛頓,約12Kg N3型提升力試塊 規(guī)格為:177牛頓,約18Kg
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